Link 发表于 2003-6-15 14:54:00

6西格玛管理中几个常用指标[转帖]

1.:这是一个希腊字母,用来度量质量特性波动大小统计单位,在统计学中称为标准差。
  我们知道任何一个质量特性X总是有波动的,这种波动是随机的,时隐时现,时大时小,时正时负。但是当我们大量观察了同一质量特性时,隐藏在随机性后面的统计规律性就会显现出来,这就是X的概率分布。在一个特性的概率分布中,有两个重要的特征量,这便是随机变量的均值与标准差。随机变量的均值(统计中记为E(X))常用希腊字母µ表示,随机变量的取值与均值的差,称为偏差,反映了波动,由于这种偏差也是随机的,为避免正负抵消,用它的平方的均值(统计中记为Var(X)=E(X-E(X))2)来表示其大小,称为方差,记为 ,方差的算术根便是标准差,记为 。
  2.过程能力PC与过程能力指数Cp:
(1)过程能力是指过程加工质量方面的能力。这种能力表示过程稳定的程度,在过程受控时,特性服从的分布是正态分布。过程的稳定性可以用标准差来度量,越小,过程越稳定,过程能力接越高。由于在受控过程中,特性值有99.73%散布在(µ-3 ,µ+3 )内,因此将过程能力定义为:
PC=6
  (2)过程能力指数是用来度量一个过程满足顾客要求的程度。顾客的要求可以用规范限来表示。
  顾客对规范的要求可以是双侧的,即要求在X在(LSL,USL)内。若记规范限的宽度为T=USL-LSL,规范的中心为M=(USL+LSL)/2,当规范中心M与过程中心µ重合是,定义过程能力指数为顾客要求与过程能力之比:

  有时顾客的要求是单侧的。如果顾客要求X必须大于LSL时,就定义下过程能力指数为:

  如果顾客要求X必须小于USL时,就定义上过程能力指数为:

  在顾客的要求是双侧规范限时,过程中心µ不一定与规范中心M重合,那么这时实际的过程能力指数用Cpk表示:
Cpk=min{CpU,CpL}
Cpk的其它计算公式有:

  其中=|M-µ|是中心的偏移,K=2/T是偏离度。由于 ,因此Cp也称为潜在的过程能力指数。
  (3)长期的过程能力指数与短期的过程能力指数:
  在实际中上述涉及的参数µ与常常是未知的,需要从过程中抽取数据获得它们的估计。
  在短期的过程能力指数中,可以从短期获得的数据来估计。譬如在一个稳定的过程中每隔一定时间从生产线上连续抽取一个n产品测定其特性值,从中可以计算它的平均值,极差R(或标准差s),如果工抽取了k组,那么可以得到 µ和的估计如下:

这里。上面的d2与c4是一个修偏系数,他们与n有关,可以查表得到
  长期过程能力指数也称为过程性能指数,记为Pp相应的有Ppk,PpU,PpL),只是其中的µ和的估计改变了。将长期收集的所有数据看成为一个样本。它的样本很大,常有几百、几千个。若记总的数据个数为N,那么记其平均值为,样本标准差为s,可以直接用它们来估计µ和:

  其中s无需修正,因为样本量很大,要注意σ的估计在长期数据场合已不能用平均极差或平均标准差估计了。
  规范限内所包含的σ个数与不合格品率的关系:
  在过程稳定时,若给出了规范限,过程的平均与标准差后,我们可以通过查正态分布表,获得不合格品率。这里给出一张在不同的δσ质量水平下对照表--每一百万个产品中的不合格品数。
  设规范限为(LSL,USL),规范限的宽度为T,规范的中心为M,过程的均值为µ,标准差为。
不合格品率(ppm)
T/2包含的σ个数δM=µ |M-µ|=1.5
1 317400 697700
2 45400 308733
3 2700 66803
4 63 6210
5 0.57 233
6 0.002 3.4
  3. 单位产品的平均缺陷数DPU
  设X表示单位产品上的缺陷数,那么它服从泊松分布,其平均值常用表示,而在一些文献上称它为DPU,表示的是单位产品上的平均缺陷数。此时合格率为:
P(X=0)= e-DPU
  因此要提高合格率就要降低DPU。
  4. 每个机会的缺陷数DPOM与百万个机会的缺陷数DPMO
  一件产品上有10个位置可能产生缺陷,并且每个位置上最多出现一个缺陷。此种位置称为一个机会(opportunity)。如一块印刷电路板上有50个焊点,那么虚焊、漏焊、焊锡过多等缺陷只能出现在这50个位置上,这50个位置就是50个机会。又如护士在病房里护理病人,早、中、晚三次送药片,输药水、记录体温等方面可能发生差错。这些方面就是缺陷可能出现的机会。假如一个产品(或一项服务)有10个机会,可用10个长方格表示机会,缺陷可用“·”表示。

  若抽取60个这样的产品共发现18个缺陷,每个机会的(平均)缺陷数定义为

若把DPO乘以106就得每百万个机会的缺陷数(DPMO)为
DPMO=0.03×106=30000
  5. 流通合格率RTY
  由于在生产线上每一工序都可能产生缺陷,一些缺陷可以通过返工修复成为合格的,因此最终的合格率不能反映中间工序返工所造成的损失。因此提出了流通合格率的概念。
  流通合格率指每一工序合格率的乘积,用RTY表示,或者用YRT表示。
  譬如,一个产品有8道工序,其中第二道工序的合格品率为0.955,第五、第八道的合格品率分别为0.97,0.944,另外五道工序无不合格品,则该产品的流通合格率为
RTY =0.955×0.97×0.944=87.4%
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czong1972 发表于 2007-7-1 21:24:00

第一次看到6σ的常用指标解释。家园的好东西真多啊 <br/>

jind66 发表于 2007-8-10 15:39:00

好东西

jamesyzcheng 发表于 2007-9-11 19:36:00

<p>感謝.樓主</p>

zhangho0902 发表于 2007-9-28 10:01:00

<p>谢谢楼主提供好资料。</p>

cftyzff 发表于 2007-9-29 23:20:00

<p>很不错的东西,感谢楼主分享!</p>

一叶篇舟 发表于 2007-10-5 14:09:00

<p>才看到细仔的解释,收藏.</p>

great018 发表于 2007-10-15 16:22:00

<p>版主可能笔误了吧。</p><p>过程能力是Cp (capability of process)</p><p>过程能力指数是Cpk (index of process capability)</p><p>献丑了</p><p></p>

shaofeng 发表于 2007-10-26 16:47:00

天,暂未看出对俺的互联网有啥帮助 有空再来 思索一下

訸訸 发表于 2007-11-2 12:41:00

<p><font style="BACKGROUND-COLOR: #cce8cf;">不错 !</font></p>
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